ISO 16232顆粒物提取方法
顆粒是導致軸承故障的重要原因。為避免軸承意外受損，需要對軸承組件進行清潔度評估，以便評估并保證軸承的性能。 ISO 16232 規(guī)定了四種顆粒雜質(zhì)的提取方法。 表 1 列出了幾種不同的分析方法。實際操作時可以根據(jù)對分析結(jié)果的要求選擇一種或多種方法。
| 方法 | 設(shè)備 | 參數(shù) | 結(jié)果 | 限制 |
| 重量評估 | 天平 | 總重量 | 清潔度水平，沒有單個顆粒的數(shù)據(jù) | 環(huán)境條件（濕度等） |
| 光學顯微鏡 | 實驗室手動或自動顯微鏡 | 顆粒分布（長度、面積） | 清潔度水平，包括顆粒數(shù)據(jù) | 顆粒數(shù)量不能過多，避免覆蓋 |
| 掃描電子顯微鏡 | 手動或自動掃描電子顯微鏡 | 顆粒分布/顆粒類型 | 清潔度水平，包括最全面的顆粒尺寸和類型數(shù)據(jù) | 顆粒數(shù)量不能過多，避免覆蓋 |
| 自動消光 | 顆粒計數(shù)器 | 受限顆粒分布（等效直徑） | 清潔度水平，包括顆粒數(shù)據(jù) | 顆粒在介質(zhì)稀疏分布，避免覆蓋 |
ISO 16232顆粒物提取方法
ISO 16232顆粒物提取套裝
ISO 16232顆粒物提取套件
ISO 16232清潔度測試儀器
安捷萊清潔度分析儀可用于進行 ISO 16232清潔度等級分析測試
