清潔度測試與清潔度測試的內(nèi)容介紹
清潔度定義：
簡單的描述：清潔度的定義指的是產(chǎn)品的潔凈程度。
從宏觀角度來描述：清潔度指的是產(chǎn)品表面殘留微小顆粒物的程度。一般我們是通過顆粒物的尺寸、數(shù)量、重量來衡量樣品被污染的程度。
從微觀的角度來描述：清潔度指的是產(chǎn)品表面殘留的陰陽離子的多少。一般我們是通過單位面積含量某種離子的質(zhì)量或單位面積總離子的等效質(zhì)量來表征。
清潔度測試目的：
通過標(biāo)準(zhǔn)的方法來驗(yàn)證產(chǎn)品的清潔度是否符合相關(guān)行業(yè)的限值要求。
清潔度測試意義：
對于精密零部件，產(chǎn)品表面殘留的微小顆粒物超出規(guī)定的限值會直接影響產(chǎn)品在裝配時的緊密度，并且使產(chǎn)品的磨損老化加速;對于電子組裝線路板，表面殘留的離子含量過多會導(dǎo)致產(chǎn)品在長期使用中的電器安全，可能會由于離子遷移產(chǎn)生電化學(xué)漏電現(xiàn)象，而導(dǎo)致產(chǎn)品損壞。
適用產(chǎn)品范圍：
精密零部件，電子線路板，組裝電子線路板。
清潔度測試原理：
顆粒物清潔度主要是先通過萃取表面顆粒物，然后再使用顆粒物統(tǒng)計軟件記錄數(shù)量及最大尺寸，使用分析天平記錄殘留物重量。離子殘留清潔度主要是根據(jù)IC離子色譜法進(jìn)行測試。
參考要求：
IPC-TM650-2.3.28電路板離子分析，離子色譜法;ISO16232-10顯微分析方法統(tǒng)計顆粒物尺寸及數(shù)量;IPC-TM-650 2.3.25 (C 版本2001-2)溶劑萃取的電阻率法樣品要求。
測試結(jié)果示例(顆粒物清潔度)：
殘留物重量:5.5mg
顆粒范圍 | 結(jié)果(等級/數(shù)量) |
200μm ≤顆粒物直徑＜400μm | H/32 |
400μm ≤顆粒物直徑＜600μm | I/7 |
600μm ≤顆粒物直徑＜1000μm | J/2 |
1mm≤顆粒物直徑＜2mm | K1/1 |
顆粒物直徑≥2mm | K2/1 |
顆粒總數(shù)＞200μm | 43 |
相關(guān)測試儀器
安捷萊清潔度檢測儀
用于清潔度測試的儀器產(chǎn)品根據(jù)不同的原理可以劃分為顯微鏡法、圖像掃描分析儀、熒光激發(fā)法、接觸角法和稱重法等。 安捷萊清潔度檢測儀是一款采用圖像掃描分析法為原理的清潔度測試儀。
傳統(tǒng)的清潔度檢測方法多采用的是顯微鏡法通過多個鏡頭的取像組合從而得出測試結(jié)果，因而采用顯微鏡法測試速度比較慢，而且由于圖像的拼合容易產(chǎn)生圖像裂解而導(dǎo)致測試結(jié)果出現(xiàn)誤差。
而安捷萊清潔度檢測采用的是整個濾膜的掃描分析，能在3分鐘內(nèi)完成濾膜的掃描測試，并且出具符合ISO 16232以及VDA 19的清潔度測試報告。
